- Ваша корзина пуста
- Продолжайте Делать Покупки
Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT510 InTouchScope™
Сканирующие электронные микроскопы (СЭМ) являются незаменимыми инструментами не только для исследований, но и для контроля качества и производства.
В этих условиях одни и те же процессы наблюдения необходимо выполнять многократно, поэтому возникла необходимость в повышении эффективности.
Производитель: JEOL
Сканирующие электронные микроскопы (СЭМ) являются незаменимыми инструментами не только для исследований, но и для контроля качества и производства.
В этих условиях одни и те же процессы наблюдения необходимо выполнять многократно, поэтому возникла необходимость в повышении эффективности.
В JSM-IT510 новая функция Simple SEM позволяет пользователям «предоставить ему повторяющиеся ручные операции», необходимые для наблюдения в СЭМ, что делает наблюдение в СЭМ более эффективным и простым.
Просто выберите целевое поле
Simple SEM облегчает повседневную рутинную работу.
Образец: Электронное устройство.
Ускоряющее напряжение: 15 кВ, (вверху) Увеличение: ×50 (внизу) ×1000, Сигнал: BE
Образцы обмена Navi
Руководство от обмена образцами до автоматического наблюдения
Безопасно и просто! Навигация по обмену образцами
1. Следуйте указаниям Navi для установки образца.
2. Подготовьтесь к наблюдению во время эвакуации.
- Опционально доступна система навигации на сцене (SNS).
- SNS Large Sample (SNSLS) — опция. Совместимо с SNS.
- Опционально доступна камера прицеливания (CS).
3. Автоматически начать наблюдение
Автоматическое формирование изображения после эвакуации.
Зеромаг
Увеличить оптическое изображение * 1 , перейти к изображению СЭМ
Функция Zeromag упрощает навигацию, обеспечивая плавный переход от оптического изображения к СЭМ-изображению.
СЭМ-изображение, оптическое изображение и изображение держателя связаны между собой для общего обзора мест анализа.
- Для отображения оптического изображения необходима система навигации сцены (SNS).
Образец: Ископаемый аммонит.
Ускоряющее напряжение: 7 кВ, Сигнал: BE.
Анализ в реальном времени / Карта в реальном времени* 2
Встроенная система EDS для определения элементного состава в реальном времени во время наблюдения
Функция Live Analysis отображает спектр EDS или карты элементов в режиме реального времени во время наблюдения за изображением. Эта функция может поддерживать поиск и выдавать оповещения о целевых элементах.
- Live Analysis является стандартом для A (анализ) / LA (низкий вакуум и анализ).
Образец: Ископаемый аммонит.
Ускоряющее напряжение: 15 кВ. Увеличение: ×1000.
Простой анализ
Анализ ЭЦП можно запустить в 3 клика.
Характеристики
Серия JSM-IT510 может быть оснащена следующими 4 конфигурациями: BU (базовый блок) / A (анализ) / LV (низкий вакуум) / LA (низкий вакуум и анализ).
| БУ (базовая единица) | Базовый тип для наблюдения в условиях высокого вакуума |
|---|---|
| А (Анализ) | Тип анализа, EDS прилагается к BU как стандарт |
| НВ (низкий вакуум) | Низковакуумный тип, для работы в условиях высокого и низкого вакуума. В комплект поставки входит: кровать. |
| LA (Низкий вакуум и анализ) | Низковакуумный тип, для работы в высоком и низковакуумном режиме, включая BED и EDS. |
Технические характеристики СЭМ
| Разрешение | Режим высокого вакуума 3,0 нм (30 кВ), 15,0 нм (1,0 кВ) Режим низкого вакуума ※1 4,0 нм (30 кВ BED) |
|---|---|
| Увеличение фото | ×5 до ×300 000 (определяется для фотографии размером 128 мм × 96 мм) |
| Увеличение дисплея | ×14 до ×839,724 (определено для размера фотографии 358 мм × 296 мм) |
| Электронная пушка | W-нить, полностью автоматическое выравнивание пистолета |
| Напряжение на земле | 0,3 кВ – 30 кВ |
| Регулировка давления ЛЖ ※1 | от 10 до 650 Па |
| Апертура объектива | Четырехступенчатая, с функцией точной регулировки по осям XY |
| Автоматическая функция | Регулировка нити накала, регулировка выравнивания пушки, выравнивание луча , коррекция фокусировки/астигматизма/яркости/контраста |
| Максимальный размер образца |
Диаметр 200 мм × высота 75 мм Диаметр 200 мм × высота 80 мм ※3 Диаметр 32 мм × высота 90 мм ※3 |
| Стадия образца | Большой эвцентрический столик X: 125 мм Y: 100 мм Z: 80 мм Наклон: от -10 до 90° Вращение: 360° |
| Режим изображения | Вторичное электронное изображение, REF-изображение, композиционное изображение* 1 Топографическое изображение ※1 , Теневое изображение ※1 , PD-изображение ※4 |
| Размер изображения | 640 × 480 1280 × 960 2560 × 1920 5120 × 3840 |
| Функция фотопомощи | Монтаж, Simple SEM, Zeromag, Live 3D |
| Функция поддержки операций | Рецепт (стандартный рецепт / пользовательский рецепт) Измерение (расстояние между 2 точками, расстояние между параллельными линиями, угол, диаметр и т. д.) Навигация по обмену образцами Функция глубины сигнала 3D-измерение ※5 |
| ОС | Microsoft ® Windows ® 10 64 бит |
| Монитор наблюдения | 23,8-дюймовая сенсорная панель |
| Функции EDS ※2 | См. спецификацию EDS. |
| Управление данными | Лаборатория SMILE VIEW™ |
| Генерация отчетов. Отчет в один клик. |
Вывод в Microsoft ® Word Вывод в Microsoft ® PowerPoint ※6 |
| Переключение языка | Японский, английский, китайский ※7 (работает через пользовательский интерфейс) |
| Вакуумная система | Полностью автоматический, TMP: 1, RP: 1 или 2 ※1 |
Основные параметры
- Детектор обратно рассеянных электронов (BED)* 1
- Низковакуумный гибридный детектор вторичных электронов (LHSED)
- Детектор вторичных электронов низкого вакуума (LVSED)
- Энергодисперсионный рентгеновский спектрометр (ЭДС)* 2
- Волнодисперсионный рентгеновский спектрометр (WDS)
- Картина дифракции обратно рассеянных электронов (EBSD)
- Камера шлюза загрузки (камера предварительной эвакуации)
- Система навигации на этапе (SNS)
- Большой образец навигационной системы сцены (SNSLS)
- Камерная область (CS)
- Панель управления (OP2)
- Электронная пушка LaB 6 (LAB 6 )
- Программное обеспечение для 3D-анализа (SVM)
- Таблица (TBL)
Спецификации EDS
Применимо к A (анализ) / LA (низкий вакуум и анализ)
●：Стандарт ○：Опция
| Стандартный | ||
|---|---|---|
| Управляющий ПК | ОС: Microsoft ® Windows ® 10 64-бит ※8 | ● |
| Язык | Японский / английский / китайский ※7 | ● |
| Детектор | Тип SDD | Выберите из списка детекторов |
| Спектральный анализ | Качественный анализ (идентификация пиков, автоматический качественный анализ) Визуальная идентификация пиков Безстандартный количественный анализ (метод ZAF) Стандартный количественный анализ (метод ZAF) ※9 Метод PHI-RHO-Z (PRZ): метод количественной коррекции QBase (база данных качественного анализа) |
● |
| Линейный анализ | Анализ линии (параллельное и произвольное направление) | ● |
| Карта стихий | Элементарная карта (карта с несколькими цветами, монохромная, многоцветное наложение) Максимальное разрешение в пикселях: 4096 × 3072 Всплывающий спектр в реальном времени Карта деконволюции (карта чистого количества, количественная карта) Карта чистого количества в реальном времени Фильтр в реальном времени Отображение профиля линии Отслеживание зонда Анализ воспроизведения (спектральная карта с временным разрешением) |
● |
| Серийный анализ | Спектральный анализ, линейный анализ, элементная карта. Комплексный анализ уже проанализированных данных (качественный и количественный анализ). |
● |
| Монтаж | Автоматический монтаж (изображение SEM, карта элементов) Последовательное картирование элементов для нескольких областей |
● |
| Программное обеспечение для анализа частиц | ・Анализ частиц (автоматический/ручной) и анализ EDS, классификация данных анализа частиц, графическое отображение статистически обработанных данных анализа частиц, серийный анализ частиц на больших площадях ・Библиотека GSR (остатки дроби) ・Библиотека анализа металлических элементов ・Библиотека анализа чистоты автомобильных деталей |
○
○ |
| Генерация отчетов | Вывод лабораторных работ SMILE VIEW™ в виде файла Microsoft ® Word, Microsoft ® PowerPoint ※6 |
● |
| Интеграция SEM | Интегрированное управление данными наблюдений и анализа. Указание позиции анализа на экране управления СЭМ (прямой анализ в пользовательском интерфейсе для СЭМ). Графическое отображение позиций анализа. |
● |
| Функция помощи | Справочное руководство | ● |
| Двойной детектор | Анализ с двумя детекторами ※10 | ○ |
| Функция офлайн | Лицензионное программное обеспечение для автономного анализа данных | ○ |
- Стандартно в JSM-IT510LV/LA.
- Стандартно в JSM-IT510A/LA.
- Требуется дополнительный держатель.
- Требуется LHSED (опция).
- Требуется SVM (опция).
- Должен быть установлен Microsoft® Offce.
- Китайский язык изучать необязательно.
- Для JSM-IT510A/LA программное обеспечение EDS устанавливается на том же ПК, что и программное обеспечение управления SEM.
- Требуется дополнительный блок компенсации тока зонда (опция). Автоматический контроль тока зонда возможен только при подключении EDS к компьютеру микроскопа.
- Требуются два детектора EDS с одинаковым размером активного сенсора. Существует ограничение на перемещение платформы в зависимости от монтажных портов.
Технические характеристики могут быть изменены без предварительного уведомления.
Microsoft, Windows, PowerPoint и Microsoft Office являются зарегистрированными товарными знаками корпорации Microsoft в США и других странах.
Не нашли то, что искали?
Мы можем подобрать вариант, который обязательно Вам понравится!
Заполните форму и мы ответим вам в ближайшее время.
