JEM-Z200MF Электронный микроскоп без магнитного поля

JEM-Z200MF — это электронный микроскоп с объективом, не создающим магнитного поля, который обеспечивает наблюдение с высоким разрешением без приложения сильного магнитного поля к образцам. В сочетании с корректором аберраций высшего порядка возможна визуализация с атомным разрешением.

Объектив без магнитного поля

Объектив JEM-Z200MF состоит из двух линз (FOL/BOL), расположенных над и под образцом. Магнитные поля этих двух линз компенсируются в плоскости образца, создавая объектив с бесполевой средой и коротким фокусным расстоянием. Короткое фокусное расстояние обеспечивает низкую хроматическую аберрацию и высокую общую стабильность. В сочетании с корректором аберраций высшего порядка возможна визуализация с атомным разрешением. Магнитное поле в направлении Z может быть приложено к образцу с помощью встроенных катушек, расположенных вокруг самой линзы.

Двойной корректор

JEM-Z200MF оснащен системой двойной коррекции как со стороны освещения, так и со стороны формирования изображений, что позволяет получать изображения высокого разрешения как в сканирующем, так и в просвечивающем электронном микроскопе.

Система освещения

Корректор STEM может работать в двух режимах: один подходит для наблюдений с высоким разрешением, другой идеально подходит для высокочувствительных DPC-исследований.

Режим большого угла конвергенции

Идеально подходит для наблюдений с высоким разрешением.

200 кВ, МХРП

Угол сходимости:
20 мрад (полуугол)
(с апертурой CL 40 мкм)

Режим малого угла конвергенции

Идеально подходит для наблюдений DPC STEM.

200 кВ, МХРП

Угол сходимости:
1,0 мрад (полуугол)
(с апертурой CL 10 мкм)

Система визуализации

С помощью JEM-Z200MF теперь можно переключаться между режимом CV (обычный) для наблюдения в темном поле и режимом HR (высокое разрешение) нажатием одной кнопки.