- Ваша корзина пуста
- Продолжайте Делать Покупки
JEM-2200FS Полевой эмиссионный электронный микроскоп
Современный аналитический электронный микроскоп JEM-2200FS оснащен полевой эмиссионной пушкой (FEG) напряжением 200 кВ и встроенным энергетическим фильтром (Omega-фильтр), который обеспечивает получение изображений с нулевыми потерями, устраняя неупругие электроны, что приводит к четким изображениям с высокой контрастностью.
Производитель: JEOL
Современный аналитический электронный микроскоп JEM-2200FS оснащен полевой эмиссионной пушкой (FEG) напряжением 200 кВ и встроенным энергетическим фильтром (Omega-фильтр), который обеспечивает получение изображений с нулевыми потерями, устраняя неупругие электроны, что приводит к четким изображениям с высокой контрастностью. Изображения, отфильтрованные по энергии, формируемые электронами с низкими потерями или потерями в сердечнике, предоставляют информацию о химическом состоянии или элементном составе образца. Также доступна спектроскопия для элементного и химического анализа образцов.
Внутриколонный энергетический фильтр (фильтр Омега)
Фильтр энергии, встроенный в колонку, позволяет получать изображения с энергетической фильтрацией и спектры потерь энергии электронов. Оптимально спроектированный фильтр обеспечивает получение изображений без искажений.
Система управления
Основные компоненты JEM-2200FS, такие как оптическая система, гониометрический столик и система эвакуации, полностью управляются с помощью ПК. Эта система обеспечивает стабильно высокое качество данных.
Система визуализации
Новая система визуализации, состоящая из четырехступенчатых промежуточных линз и двухступенчатых проекционных линз, позволяет получать энергетически отфильтрованные просвечивающие изображения без вращения и дифракционные картины в широком диапазоне увеличений и длин камеры.
Пьезоуправляемый гониометр
Новый предметный столик гониометра, оснащенный пьезоэлектрическим устройством, обеспечивает плавную работу при поиске полей зрения на атомном уровне.
Интеграция с другими инструментами
Микроскоп полностью управляется с ПК. Конструктивная концепция позволяет интегрировать систему EDS и ПЗС-камеры.
Характеристики
| Конфигурация ※1 | Сверхвысокое разрешение (UHR) |
Высокое разрешение (HR) |
Высокий наклон образца (HT) |
Крио (CR) |
Высокая контрастность (HC) |
|---|---|---|---|---|---|
| Разрешение | |||||
| Точечная решетка |
0,19 нм 0,1 нм |
0,23 нм 0,1 нм |
0,25 нм 0,1 нм |
0,27 нм 0,14 нм |
0,31 нм 0,14 нм |
| Энергетическое разрешение | 0,8 эВ (полная ширина на полувысоте с нулевыми потерями) | ||||
| Точное напряжение | 160 кВ，200 кВ ※2 | ||||
| Минимальный размер шага Энергетический сдвиг |
50 В, максимум 3000 В (с шагом 0,2 В) |
||||
| Источник электронов | |||||
| Эмиттер | ZrO/W(100) Шоттки | ||||
| Яркость | ≧4×10 8 А/см 2 ・ ср | ||||
| Вакуум | ×10 -8 Па порядка | ||||
| Ток зонда | 0,5 нА при зонде 1 нм | ||||
| Стабильность мощности | |||||
| Соответствующее напряжение | ≦1×10 -6／мин | ||||
| ток OL | ≦1×10 -6／мин | ||||
| Фильтр тока | ≦1×10 -6／мин | ||||
| Объективная линза | |||||
| Фокусное расстояние | 1,9 мм | 2,3 мм | 2,7 мм | 2,8 мм | 3,9 мм |
| Сферическая аберрация |
0,5 мм | 1,0 мм | 1,4 мм | 2,0 мм | 3,3 мм |
| Хроматическая аберрация |
1,1 мм | 1,4 мм | 1,8 мм | 2,1 мм | 3,0 мм |
| Минимальный шаг | 1,0 нм | 1,4 нм | 1,8 нм | 2,0 нм | 5,2 нм |
| Размер пятна (диаметр) | |||||
| режим ТЕМ | от 2 до 5 нм | от ７ до 30 нм | |||
| режим ЭДС | 0,5–2,4 нм | 1,0–2,4 нм | – | 4–20 нм | |
| режим NBD | – | – | |||
| режим КБД | 1,0–2,4 нм | – | |||
| CB Дифракция | |||||
| Угол схождения (2α) |
от 1,5 до 20 мрад и более | – | |||
| Угол приема | ±10 ° | – | |||
| Увеличение | |||||
| режим MAG | ×2000–1500000 | ×2000–1200000 | ×1500–1000000 | ×1200–600 000 | |
| Режим LOW MAG | ×50 до 1500 | ||||
| Режим SA MAG | ×10 000–800 000 | ×8000–600000 | ×8000–500000 | ×5000–400000 | |
| Размер поля зрения для изображения, выбранного по энергии | Диаметр 80 мм на конечной плоскости изображения (пленка) при выборе 10 эВ Диаметр 25 мм на конечной плоскости изображения (пленка) при выборе 2 эВ |
||||
| Длина камеры | |||||
- Выберите любую конфигурацию при заказе JEM-2200FS.
- 80 кВ, 100 кВ и 120 кВ становятся возможными при использовании дополнительных короткозамыкающих выключателей для ускорительной трубки.
- При использовании держателя наклона образца.
- При использовании фиксатора образца с высоким наклоном.
- Необходим дополнительный детектор EDS.
- При установке детектора 30 мм 2 .
Не нашли то, что искали?
Мы можем подобрать вариант, который обязательно Вам понравится!
Заполните форму и мы ответим вам в ближайшее время.
