- Ваша корзина пуста
- Продолжайте Делать Покупки
Аналитический микроскоп атомного разрешения JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2
Усовершенствованная модель “GRAND ARM™2”.
Новая модель “GRAND ARM™2” позволяет проводить наблюдения со сверхвысоким пространственным разрешением и высокочувствительным анализом в широком диапазоне ускоряющих напряжений.
FHP2 — новый полюсный наконечник объектива
Полюсный наконечник объектива FHP оптимизирован для наблюдения со сверхвысоким пространственным разрешением.
Сохраняя эту возможность, форма полюсного наконечника была дополнительно оптимизирована для телесного угла рентгеновского излучения и угла выхода рентгеновских лучей больших двухканальных детекторов (158 мм² ) .
В результате эффективная чувствительность FHP2 более чем вдвое выше, чем у FHP. Он обеспечивает субангстремное разрешение при картировании элементов методом EDS.
Изображения STEM-HAADF/ABF с атомным разрешением и карты EDS для GaN[211]
Новый корпус
Колонна ТЭМ покрыта кожухом коробчатого типа, который может снизить влияние изменений окружающей среды, таких как температура, поток воздуха, акустический шум и т. д., а также повысить стабильность микроскопа.
Корректор ETA и JEOL COSMO™
Быстрая и точная коррекция аберраций
JEOL COSMO™ использует только две ронхиграммы, полученные с любой аморфной области, для измерения и коррекции аберраций.
Таким образом, система обеспечивает быструю и точную коррекцию аберраций без использования специальных образцов.
Характеристики
| Версия | Конфигурация сверхвысокого разрешения | Конфигурация высокого разрешения |
|---|---|---|
| Полюсный наконечник объектива | ФХП2 | ВГП |
| Стандартное ускоряющее напряжение | 300 кВ, 80 кВ | |
| Электронная пушка | Холодная полевая эмиссионная пушка | |
| STEM-разрешение | Установлен корректор STEM Cs 300 кВ / 80 кВ | |
| 53 вечера / 96 вечера | 59 вечера / 111 вечера | |
| Разрешение TEM | Установлен корректор TEM Cs 300 кВ / 80 кВ | |
| Разрешение решетки 50пм / – | Разрешение решетки 60 пм / – | |
| Предел нелинейной информации 60 пм / 90 пм |
Предел нелинейной информации 70 пм / 100 пм |
|
| Линейный информационный предел 90 пм / 160 пм |
Линейный информационный предел 100 пм / 170 пм |
|
| Максимальный угол наклона | При использовании держателя наклона образца JEOL для анализа | |
| X: ± 30°/ Y: ± 27° | X: ± 36°/ Y: ± 31° | |
| При использовании держателя образца с высоким наклоном | ||
| X：± 90° | X：± 90° | |
Не нашли то, что искали?
Мы можем подобрать вариант, который обязательно Вам понравится!
Заполните форму и мы ответим вам в ближайшее время.
