Времяпролетный масс-спектрометр с матрично-активированной лазерной десорбцией /ионизацией JMS-S3000 SpiralTOF™-plus 3.0

Установка нового стандарта производительности MALDI-TOFMS

Для улучшения разрешающей способности масс и точности масс времяпролетного масс-спектрометра, расстояние пролета должно быть увеличено, при этом группа ионов с одинаковым  m/z  (ионный пакет) не должна расходиться в пространстве.
Инновационная ионная оптика SpiralTOF была разработана JEOL на основе принципов «идеальной фокусировки» и «многооборотности». Ионные пакеты фокусируются обратно в пространстве на каждом фиксированном расстоянии (т. е. каждой траектории в виде восьмерки) во время полета. Таким образом, даже после увеличенного расстояния пролета ионные пакеты не расходятся в плоскости детектирования, достигая высокой разрешающей способности масс, высокой точности масс и высокой передачи ионов.

Уменьшение топографического эффекта кристаллической матрицы

Топографический эффект кристалла матрицы приводит к разнице в стартовом положении полета ионов, что приводит к разнице во времени полета. В обычной ионно-оптической системе эта разница во времени ухудшает разрешающую способность масс, а также точность масс, получаемую при внешней калибровке масс. Благодаря увеличенному расстоянию полета JMS-S3000 сводит этот эффект к минимуму и достигает высоковоспроизводимой разрешающей способности масс и высокой точности масс при внешней калибровке масс.

Другим следствием этого является то, что высокое разрешение и точность определения масс могут быть сохранены при анализе изображений биологического образца, в котором большое количество масс-спектров получено на большой поверхности образца, которая, вероятно, будет неровной.

Достижение широкого динамического диапазона

SpiralTOF ^TM -plus 3.0 реализовал широкий динамический диапазон, используя 14-битный АЦП (аналого-цифровой преобразователь) для обработки сигнала TOF. Это позволяет одновременно обнаруживать пики с разницей в интенсивности ионов около 4 порядков. Кроме того, анализ следовых компонентов стал простым в измерениях масс-спектрометрической визуализации, в дополнение к обычным измерениям объемных образцов. Ниже приведен пример измерения смеси полиэтиленоксида и полипропиленоксида в соотношении 1000:1. В случае анализа полимеров, при сочетании с анализом дефекта массы Кендрика (KMD), можно анализировать следовые компоненты, которые в противном случае трудно обнаружить. В примере ниже был обнаружен следовой компонент PPO, и его средняя молекулярная масса и т. д. могут быть рассчитаны.

Масс-спектр смеси полиэтиленоксида и полипропиленоксида в соотношении 1000:1.