Описание
ACE 3000 ICP-MS — масс-спектрометр, предназначенный для анализа неорганических элементов и способный одновременно определять множество следовых неорганических элементов. YOUNG IN Chromass обладает эксклюзивными правами на международные продажи и дистрибуцию ACE 3000 ICP-MS.
ACE 3000 ICP-MS — первый и единственный ICP-MS, разработанный полностью на основе корейских технологий, способный анализировать следовые элементы на уровне ppt (10⁻¹²). Как ведущий прибор элементного анализа он необходим для определения опасных тяжёлых металлов в областях, тесно связанных с повседневной жизнью, — окружающая среда, пищевые продукты и косметика. Кроме того, это ключевой прибор для отраслей четвёртой промышленной революции: анализ полупроводников, дисплеев и вторичных источников тока (аккумуляторов).
ICP-MS отличается низкими пределами обнаружения, одновременным многоэлементным анализом и широким динамическим диапазоном. Традиционные методы — пламенная ААС, ГФ-ААС и ICP-OES — сталкивались с низкой чувствительностью, неудобством элемент-специфичных ламп и проблемами изотопного анализа; эти ограничения преодолевает современная ICP-MS.
Особенность
- Одновременный многоэлементный анализ
- Эффективное устранение интерференций с помощью реакционно-столкновительной ячейки: при работе на аргоновой плазме возможны масс-спектральные помехи от полиатомных ионов аргона или растворителей; октупольная ячейка устраняет их и обеспечивает чистые результаты
- Октупольная ячейка даёт более высокую частоту столкновений для дискриминации по кинетической энергии (KED) по сравнению с квадрупольной и гексапольной конструкциями; ионы взаимодействуют с гелием, эффективно устраняя помехи полиатомных ионов
- Точные результаты в сложных матрицах проб: запатентованная интерфейсная камера с ионными линзами, подобранными под матрицу пробы, заранее удаляет аргон — основной мешающий компонент — и ненужные ионы
- Повышенная эффективность переноса ионов благодаря специальной конструкции линзы OAC
- Запатентованные линзы sigma и epsilon обеспечивают оптимальные условия анализа
- Квадрупольный масс-фильтр собственной разработки (RF/DC-управление и стержни квадруполя): точность прямолинейности и параллельности стержней обеспечивает стабильный масс-анализ
- Сверхстабильная плазма: опыт в области плазменных источников ионов — индуктивно связанная плазма, плазма СВЧ-разряда и плазма диэлектрического барьерного разряда
- Специальное решение для анализа наночастиц: характеристика и количественный анализ, включая концентрацию, распределение и влияние на окружающую среду
- Широкий динамический диапазон и устойчивость к матрице
Ключевые характеристики
| Параметр | Значение |
| Производитель / происхождение | Young In ACE, Республика Корея; эксклюзивные международные продажи и дистрибуция — YOUNG IN Chromass |
| Тип прибора | Масс-спектрометр с индуктивно связанной плазмой (ICP-MS) для анализа неорганических элементов |
| Пределы обнаружения | Анализ следовых элементов на уровне ppt (10⁻¹²) |
| Плазма | Аргоновая плазма |
| Реакционно-столкновительная ячейка | Октупольного типа (Octopole-style Collision Reaction Cell); столкновения с гелием, дискриминация по кинетической энергии (KED) |
| Интерфейсная камера | Запатентованная; запатентованные линзы sigma и epsilon |
| Масс-фильтр | Квадрупольный масс-фильтр (QMF) собственной разработки; ВЧ/DC-управление и стержни квадруполя |
| Анализ наночастиц | Специальное решение: концентрация, распределение, влияние на окружающую среду |
| Результаты тестов (брошюра) | Индий (¹¹⁵In): LOD = 0,001 ppb, R² = 0,99999; литий (⁶Li): LOD = 0,001 ppb, R² = 0,99984; лютеций (¹⁷⁵Lu): LOD = 0,001 ppb, R² = 0,99999 (10 повторов) |
Основные узлы (по брошюре)
- Интерфейсная камера — эффективно удаляет метастабильные атомы и фотоны, устраняя элементы, которые могут мешать анализу
- Источник плазмы — введённые пробы ионизируются аргоновой плазмой при высокой температуре
- Система ввода пробы — точный и надёжный ввод проб с различными матрицами, быстрая подготовка проб под разные условия анализа
- Реакционно-столкновительная ячейка — столкновения ионов с гелием
- Анализаторная камера — разделение ионов по отношению m/z, избирательный анализ нужных ионов элементов с высоким разрешением
- Детектор — преобразование сигнала в результат анализа, точное измерение концентраций элементов
Стандартные аксессуары
Комплектация уточняется — обратитесь к нашим специалистам.
Применение промышленности
Прибор используется для определения/анализа:
- Металлов
- Полупроводников
- Мониторинга окружающей среды
- Наук о жизни
- Косметики
- Нефтехимии
- Пищевых продуктов
- Фармацевтики (опасные тяжёлые металлы)
- Дисплеев и вторичных источников тока (аккумуляторов)
- Наночастиц






